3D-наноархитектура GaN для полевых транзисторов
3D GaN nanoarchitecture for field-effect transistors
2019-04-11
SCID: 54.1/3qqd7qrw
Discuss with AI
3D GaN полевые транзисторынаноребра GaNнанопровода GaNмногозатворные структурывертикальные GaN-полевые транзисторы
Figures from the paper
Abstract (AI)
Трёхмерная архитектура полевых транзисторов на основе GaN (3D GaN FET) обеспечивает им уникальные преимущества по сравнению с планарными аналогами, открывая перспективный путь к созданию полевых транзисторов будущего, выходящих за пределы закона Мура. Подобно современной технологии кремниевых процессоров, 3D GaN FET имеют многозатворные структуры, обеспечивающие превосходный электростатический контроль канала и позволяющие получать очень низкие значения крутизны подпороговой характеристики, близкие к теоретическому пределу. Были продемонстрированы различные концепции, включая латеральные и вертикальные приборы с геометрией нанопроводов (NW) или нанорёбер (NF) из GaN. Выдающиеся транспортные свойства были достигнуты в латерально контактируемых нанопроводах, выращенных методом bottom-up и перенесённых на изолирующую подложку. Для применений с более высокой мощностью особенно перспективны вертикальные полевые транзисторы на основе регулярных массивов наноструктур GaN благодаря возможности их параллельной интеграции и большой площади боковых поверхностей, которые могут использоваться как площадь канала. В данной работе рассматривается современное состояние 3D GaN FET, а также обсуждаются их концепции, методы изготовления и характеристики. Помимо потенциальных преимуществ, рассматриваются проблемы надёжности и трудности, которые могут возникать при сложной трёхмерной обработке и которые необходимо преодолеть для создания основы будущих коммутационных применений. Рассматривается современное состояние 3D GaN FET, а также обсуждаются их концепции, методы изготовления и характеристики. Продемонстрированы различные 3D GaN FET, включая латеральные и вертикальные структуры на основе нанопроводов (NW) или нанорёбер (NF) GaN. Описаны методы изготовления и обработки 3D GaN FET по технологиям bottom-up и top-down. Вертикальные наноструктуры GaN FET перспективны благодаря возможности параллельной интеграции и большой площади боковых поверхностей. Обсуждаются проблемы надёжности и трудности, которые могут возникать при сложной трёхмерной обработке.
Key Findings
1
Продемонстрированы латеральные и вертикальные устройства на основе нанопроводов и нанорёбер GaN, изготовленные методами снизу вверх и сверху вниз.
2
Латерально контактированные нанопровода GaN, выращенные методом снизу вверх и перенесённые на изолирующие подложки, продемонстрировали выдающиеся транспортные свойства.
3
Надёжность и сложности комплексной трёхмерной обработки остаются важными препятствиями для внедрения 3D GaN-транзисторов в будущие переключающие устройства.
4
Трёхмерные GaN-транзисторы с несколькими затворами обеспечивают эффективный электростатический контроль и позволяют получать субпороговый размах, близкий к теоретическому пределу.
5
Вертикальные GaN-транзисторы на основе регулярных массивов наноструктур перспективны для мощных применений благодаря параллельной интеграции и большой площади боковых стенок канала.
Research Object
3D полевые транзисторы на основе GaN с латеральной или вертикальной архитектурой из нанопроводов/нанорёбер
Research Subject
Концепции устройств, технологии изготовления, электрические характеристики, электростатический контроль и надёжность этих транзисторов для коммутационных применений
Publication Details
Publication Date
2019-04-11
Journal
Publisher
ISSN
Open access PDF
Access Type
Author Information
Download PDF
Subscribe to digest