Обзор — Воздействие повреждений от ионизирующего излучения на приборы на основе GaN
Review—Ionizing Radiation Damage Effects on GaN Devices
2015-11-24
SCID: 54.1/69gwtsyd
Discuss with AI
Гетероструктуры AlGaN/GaNGaN-транзисторы HEMTПовреждение ионизирующим излучениемРадиационная стойкостьРадиационно-индуцированные дефекты
Figures from the paper
Abstract (AI)
Высокоэлектронноподвижные транзисторы (HEMT) на основе нитрида галлия (GaN) перспективны для применения в устройствах высокой мощности и высокой частоты, поскольку по сравнению с аналогами на основе GaAs они обладают более высокими пробивными напряжениями и большей плотностью двумерного электронного газа (2DEG). К числу применений нитридных HEMT относятся системы воздушной, наземной и спутниковой связи, а также фазированные антенные решётки радиолокаторов. Высокоэффективные синие светоизлучающие диоды (LED) на основе GaN используют сплавы AlGaN и InGaN различного состава, интегрированные в гетеропереходы и квантовые ямы. Создание этих синих LED привело к появлению источников белого света, в которых синий LED возбуждает люминофор; затем излучается свет в жёлтой спектральной области, который в сочетании с синим светом воспринимается как белый. В качестве альтернативы можно совместно использовать несколько красных, зелёных и синих LED. Обе технологии применяются в высокоэффективных белых электролюминесцентных источниках света. Эти источники эффективны и долговечны, поэтому они вытесняют лампы накаливания и люминесцентные лампы в общем освещении. Поскольку на освещение приходится 20–30% потребления электрической энергии, а белые LED на основе GaN требуют в десять раз меньше энергии, чем обычные лампы, применение эффективных синих LED приводит к значительной экономии энергии. Приборы на основе GaN более радиационно-стойки, чем их аналоги на основе Si и GaAs, благодаря высокой прочности связей в материалах III-нитридов. Реакция GaN на радиационные повреждения зависит от типа, дозы и энергии излучения, а также от концентрации носителей, содержания примесей и плотности дислокаций в GaN. Дислокации могут служить центрами стока для образующихся дефектов, а такие параметры, как скорость удаления носителей вследствие их захвата радиационно-индуцированными дефектами, зависят от метода выращивания кристалла, использованного для получения слоёв GaN. Метод выращивания оказывает отчётливое влияние на радиационный отклик, помимо влияния типа носителей и источника излучения. В работе рассматриваются данные о радиационной стойкости AlGaN/Ga...
Key Findings
1
Синие светодиоды на основе сплавов AlGaN и InGaN обеспечивают высокоэффективные источники белого света посредством преобразования люминофором или совместного излучения красного, зелёного и синего цветов.
2
Метод выращивания кристалла существенно влияет на радиационный отклик, включая скорость удаления носителей из-за захвата на радиационно-индуцированных дефектах; дислокации могут служить стоками дефектов.
3
HEMT-транзисторы на основе GaN подходят для мощных и высокочастотных применений благодаря более высоким пробивным напряжениям и плотности двумерного электронного газа по сравнению с GaAs.
4
Радиационный отклик GaN зависит от типа, дозы и энергии излучения, а также от концентрации носителей, содержания примесей и плотности дислокаций.
5
Устройства на основе GaN в целом более радиационно-стойки, чем устройства на основе кремния и GaAs, благодаря более прочным химическим связям в материалах III-нитридов.
Research Object
Устройства на основе GaN, в частности транзисторы с высокой подвижностью электронов AlGaN/GaN и синие светоизлучающие диоды на основе GaN
Research Subject
Повреждение и радиационная стойкость под воздействием ионизирующего излучения, включая радиационно-индуцированные дефекты, удаление носителей заряда и зависимость от типа, дозы и энергии излучения, свойств материала и метода выращивания GaN
Publication Details
Publication Date
2015-11-24
Journal
Publisher
ISSN
Open access PDF
Access Type
Author Information
Download PDF
Subscribe to digest