Применение технологии машинного зрения для выявления дефектов высокопроизводительных микросхем измерения фазового шума

Application of machine vision technology in defect detection of high-performance phase noise measurement chips
Jing Zhou
2023-06-25

обнаружение дефектов микросхемточность идентификации дефектовсокращение промышленных отходовмашинное зрениемикросхемы измерения фазового шума
Дефекты микросхем всегда являлись проблемой промышленного производства, а усиливающееся воздействие таких дефектов на окружающую среду повысило значимость их идентификации и выявления. Для решения экологических проблем, обусловленных дефектами микросхем в процессе производства, в настоящем исследовании применяется технология машинного зрения для выявления дефектов высокопроизводительных микросхем измерения фазового шума. Результаты показывают, что точность идентификации дефектов микросхем с помощью технологии машинного зрения достигает 98%. Объём образования органических отходящих газов снижается с 5968,0 т/год до 4000 т/год, объём образования органических сточных вод — с 5496 м³/сут до 4600 м³/сут, а объём образования твёрдых отходов — с 8000 т/год до 6500 т/год. Эти данные подтверждают, что технология машинного зрения обеспечивает автоматизацию, высокую эффективность контроля и высокую точность выявления дефектов в высокопроизводительных микросхемах измерения фазового шума. Кроме того, снижение количества дефектов микросхем уменьшает выбросы отходящих газов, сбросы сточных вод и образование твёрдых отходов в процессе производства микросхем, тем самым улучшая состояние окружающей среды.
1
Внедрение машинного зрения снижает образование органических отходящих газов при производстве микросхем с 5968,0 до 4000 т/год.
2
Технология машинного зрения выявляет дефекты высокопроизводительных микросхем измерения фазового шума с точностью до 98%.
3
Объём образования органических сточных вод уменьшается с 5496 до 4600 м³/сут после улучшения выявления дефектов микросхем.
4
Образование твёрдых отходов сокращается с 8000 до 6500 т/год вследствие уменьшения дефектов при производстве микросхем.
5
Метод обеспечивает автоматизированное, эффективное и точное выявление дефектов, одновременно снижая экологическое воздействие производства микросхем.

Высокопроизводительные микросхемы для измерения фазового шума и процесс их производства

Точность обнаружения дефектов с помощью машинного зрения и влияние выявления дефектов на выход годной продукции и выбросы органических отходящих газов, сточных вод и твердых отходов при производстве микросхем

Publication Details
Publication Date
2023-06-25
Journal
Publisher
ISSN
Cited by
3
Access Type
Author Information
Authors
Jing Zhou
Explore further
Open the scid.ai AI chat with a ready-made request: it will find papers on a similar topic and help build a literature review.
Find similar papers in the chat
Make a presentation
100%