Рамановская спектроскопия как метод исследования наноразмерных вариаций деформации в графене

Конфокальная рамановская спектроскопия стала важным и универсальным методом неразрушающей характеризации графена. Хотя этот метод успешно применяется для определения числа слоёв, качества краёв, а также эффектов деформации, легирования и структурного беспорядка, природа экспериментально наблюдаемого уширения наиболее интенсивной рамановской 2D-линии оставалась неясной. Здесь мы показываем, что наблюдаемая ширина 2D-линии содержит ценную информацию о вариациях деформации в графене на масштабах, значительно меньших размера лазерного пятна, то есть на нанометровом уровне. Этот результат имеет большое значение, поскольку недавно было показано, что такие наноразмерные вариации деформации ограничивают подвижность носителей заряда в высококачественных графеновых устройствах. Следовательно, ширина 2D-линии представляет собой удобный и легко доступный параметр для классификации качества кристаллической структуры, наномасштабной плоскостности, а также локальных электронных свойств графена, имеющих большое значение для будущих научных и промышленных применений.