Моделирование эффекта излома в радиочастотных характеристиках GaN HEMT с использованием модели ASM-HEMT
Modeling of kink-effect in RF behaviour of GaN HEMTs using ASM-HEMT model
2016-08-01
SCID: 54.1/enkmkdea
Discuss with AI
модель ASM-HEMTGaN HEMTВЧ-поведениедиаграмма Смита S22эффект излома
Figures from the paper
Abstract (AI)
В статье представлена физически обоснованная компактная модель, описывающая эффект излома, наблюдаемый для S22 в AlGaN/GaN HEMT. Наличие этого излома на диаграмме Смита для S22 существенно влияет на проектирование выходной согласующей цепи усилителей на основе таких приборов, что требует точного учета данного эффекта. Эффект излома обусловлен двойственным характером выходного импеданса внутренней части прибора, который изменяется от последовательной RC-цепи на низких частотах к параллельной RC-цепи на высоких частотах; в результате возникает излом на частоте, где пересекаются контуры, соответствующие низкочастотному и высокочастотному приближениям. Выходной импеданс представляет собой сложную функцию различных внутренних элементов малосигнальной модели прибора, причем все внутренние характеристики прибора в нашей модели получены в рамках физически обоснованного подхода, что обеспечивает достаточно простую валидацию поведения эффекта излома при различных режимах смещения по экспериментальным данным.
Key Findings
1
Физически обоснованная компактная модель ASM-HEMT воспроизводит эффект излома в характеристике S22 AlGaN/GaN HEMT.
2
Поскольку внутренние характеристики устройства в модели выводятся из физически обоснованных малосигнальных элементов, она позволяет проверять поведение излома при различных смещениях по измеренным данным.
3
Излом в S22 существенно влияет на проектирование выходной согласующей цепи усилителей, поэтому требуется точное моделирование этого поведения.
4
Частота излома соответствует пересечению контуров импеданса, описывающих низкочастотное и высокочастотное приближения на диаграмме Смита.
5
Эффект излома возникает из-за перехода внутреннего выходного импеданса от последовательной RC-сети на низких частотах к параллельной RC-сети на высоких частотах.
Research Object
AlGaN/GaN-транзисторы с высокой подвижностью электронов (HEMT)
Research Subject
Кинк-эффект в радиочастотных выходных характеристиках и импедансе AlGaN/GaN-транзисторов, включая его зависящий от частоты переход от низкочастотной последовательной RC-цепи к высокочастотной параллельной RC-цепи
Publication Details
Publication Date
2016-08-01
Journal
Publisher
ISSN
Access Type
Author Information
Download PDF
Subscribe to digest