Эффективная модель запаздывания стока для микроволновых GaN HEMT на основе ASM-HEMT

An efficient drain-lag model for microwave GaN HEMTs based on ASM-HEMT
Petros Beleniotis, Frank Schnieder, Sascha Krause, Sanaul Haque, Matthias Rudolph
2021-10-20

ASM-HEMTGaN-транзисторы HEMTмоделирование дренажного лагаимпульсные I–V и S-параметрысостояния ловушек
Для моделирования HEMT-транзисторов на основе нитрида галлия (GaN) в режиме больших сигналов требуется точное описание эффектов захвата. В данной работе предложено новое, упрощённое, но точное описание запаздывания стока, повышающее точность моделирования и совершенствующее процедуру извлечения параметров физически обоснованной компактной модели ASM-HEMT. Исследовано влияние запаздывания стока на конкретные физические явления с акцентом на взаимосвязи между состояниями ловушек, расчётом поверхностного потенциала и свойствами переноса электронов. Работа дополнена усовершенствованной процедурой извлечения параметров, минимизирующей объём необходимых измерений и тем самым нежелательные последствия многократных измерений одного и того же прибора. Процедура использует только импульсные вольт-амперные характеристики и импульсные S-параметры, обеспечивая эффективные и точные результаты моделирования. Показано, что предложенная модель ловушек является эффективным инструментом для моделирования поведения как в режиме малых, так и больших сигналов, обеспечивая точное прогнозирование S-параметров и характеристик load-pull.
1
Пересмотренная процедура извлечения параметров сокращает объём необходимых измерений и использует только импульсные I–V-характеристики и импульсные S-параметры.
2
Разработана упрощённая модель задержки стока для GaN HEMT, повышающая точность моделирования физической компактной моделью ASM-HEMT.
3
Подход уменьшает необходимость многократных измерений одного и того же прибора, снижая нежелательные последствия измерений и сохраняя эффективность моделирования.
4
Модель связывает состояния ловушек, расчёты поверхностного потенциала и свойства переноса электронов для описания эффектов задержки стока.
5
Модель ловушек точно предсказывает как малосигнальные S-параметры, так и крупносигнальные характеристики load-pull.

микроволновые высокоэлектронные транзисторы (HEMT) на основе GaN, моделируемые с помощью ASM-HEMT

эффекты запаздывания стока и захвата носителей, включая их взаимосвязи с состояниями ловушек, расчётами поверхностного потенциала, переносом электронов и характеристиками в режимах малых и больших сигналов

Publication Details
Publication Date
2021-10-20
Journal
Publisher
ISSN
Cited by
13
Access Type
Author Information
Authors
Petros Beleniotis
Frank Schnieder
Sascha Krause
Sanaul Haque
Matthias Rudolph
Explore further
Open the scid.ai AI chat with a ready-made request: it will find papers on a similar topic and help build a literature review.
Find similar papers in the chat
Make a presentation
100%