Методика испытаний для оценки восприимчивости диодной платы солнечной батареи к устойчивому дугообразованию
Test Approach to Assess Solar Array Diode Board Susceptibility to Sustained Arcing
2013-06-12
SCID: 54.1/hxdgqes5
Discuss with AI
электростатические поверхностные разрядыэнергетические системы спутниковдиодная плата солнечной батареиустойчивые вакуумные дугииспытания на восприимчивость к вакуумной дуге
Figures from the paper
Abstract (AI)
Продемонстрирован метод испытаний для оценки риска возникновения устойчивого вакуумного дугообразования в системах электропитания спутников. Этот метод расширяет область применения недавно введённого международного стандарта испытаний: с лицевой стороны солнечной батареи на её тыльную сторону и другие части системы электропитания космического аппарата. Система сбора данных способна регистрировать переходные процессы — от электростатических поверхностных разрядов длительностью менее микросекунды и связанных с ними неустойчивых вторичных шунтирующих токов до устойчивых шунтирующих токов продолжительностью до 15 с. Это необходимо для наблюдения длительных самоподдерживающихся вакуумных дуг и их перехода в низкоимпедансный шунт, вызывающий необратимую потерю электропитания. Для демонстрации испытательной установки использованы данные, полученные для диодной платы солнечной батареи, не выдержавшей испытание.
Key Findings
1
Неисправная диодная плата солнечной батареи использована для демонстрации испытательной установки и ее способности выявлять восприимчивость к таким отказам.
2
Продемонстрирован метод оценки риска устойчивого вакуумного дугового разряда в энергетических системах спутников.
3
Регистрация длительных токов позволяет выявлять самоподдерживающиеся вакуумные дуги и их переход в низкоомные шунты, вызывающие необратимую потерю мощности.
4
Система сбора данных обнаруживает события от электростатических разрядов длительностью менее микросекунды и вторичных шунтирующих токов до устойчивых шунтирующих токов длительностью до 15 секунд.
5
Метод расширяет международный стандарт испытаний лицевой стороны солнечной батареи на тыльную сторону батареи и другие компоненты энергосистемы космического аппарата.
Research Object
диодные платы спутниковых солнечных батарей и компоненты энергосистемы космического аппарата в условиях вакуумного дугообразования
Research Subject
подверженность длительному вакуумному дугообразованию, включая переход от кратковременных разрядов к продолжительным самоподдерживающимся дугам и к отказу с постоянным низкоомным шунтированием
Publication Details
Publication Date
2013-06-12
Journal
Publisher
ISSN
Access Type
Author Information
Download PDF
Subscribe to digest