Руководство по ритвельдовскому (Rietveld) уточнению

Формулируется набор общих рекомендаций по уточнению структуры с использованием метода Ритвельда (полно-профильного) Комиссией по порошковой дифракции Международного союза кристаллографии. Обсуждаются практические, а не теоретические аспекты каждого этапа типичного ритвельдовского уточнения с целью оказания руководства новичкам в этой области. Акцент сделан на данных рентгеновской порошковой дифракции, собранных на лабораторном приборе, но также рассматриваются особенности, специфичные для данных от нейтронных источников (как с постоянной длиной волны, так и для времени пролета) и синхротронного излучения. Рассматриваемые темы включают: (i) сбор данных, (ii) вклад фона, (iii) функция формы пика, (iv) уточнение параметров профиля, (v) фурье-анализ с использованием данных порошковой дифракции, (vi) уточнение структурных параметров, (vii) использование геометрических ограничений, (viii) вычисление среднеквадратических отклонений (e.s.d.), (ix) интерпретацию R-показателей и (x) некоторые распространённые проблемы и возможные решения.