Натурная характеристика солнечных элементов с микроструктурированным антиотражающим покрытием в концентраторном фотоэлектрическом мономодуле

Микроструктурированные антиотражающие покрытия (ARC) рассматриваются как перспективное решение для снижения оптических потерь в модулях концентраторной фотоэлектрики (CPV). Мы изготовили и испытали в полевых условиях модуль CPV, состоящий из четырех мономодулей с коэффициентом концентрации 250×, в которых использовались либо солнечные элементы с микроструктурированным инкапсулирующим ARC, либо солнечные элементы с многослойным ARC в качестве эталона. Микроструктурированное инкапсулирующее ARC было изготовлено из частично заглубленных кремнеземных микросфер в полидиметилсилоксане. Модуль эксплуатировался в течение одного года в суровых климатических условиях Шербрука, Квебек, Канада, после чего были измерены характеристики мономодулей. Несмотря на неоптимальную конструкцию модуля, для элемента с микроструктурированным инкапсулирующим ARC достигнут КПД мономодуля 29,7% при плотности мощности излучения 900 Вт/м². Это подтверждает потенциал микроструктурированных инкапсулирующих ARC для создания высокоэффективных систем CPV.