Деградация под действием потенциала в фотоэлектрических модулях: критический обзор

Potential-induced degradation in photovoltaic modules: a critical review
Wei Luo, Yong Sheng Khoo, Peter Hacke, Volker Naumann, Dominik Lausch, Steven P. Harvey, Jai Prakash Singh, Jing Chai, Yan Wang, Armin G. Aberle, Seeram Ramakrishna
2016-11-21
SCID:  54.1/5r8ckq3b Discuss with AI
проблемы, связанные с PIDкритический обзорфотоэлектрические модулипотенциально-индуцированная деградация
Abstract (AI)
В статье представлен критический обзор деградации под действием потенциала (PID) в фотоэлектрических модулях с целью охарактеризовать современное состояние исследований и возможные направления дальнейшей работы по решению проблем, связанных с PID.
Key Findings
1
Определяются возможные направления дальнейших исследований для решения проблем и снижения последствий PID.
2
Обобщается текущее состояние исследований проблем, связанных с PID, в фотоэлектрических модулях.
3
В аннотации не представлены конкретные экспериментальные результаты, количественные сравнения или показатели эффективности.
4
В статье представлен критический обзор современных исследований потенциально индуцированной деградации (PID) в фотоэлектрических модулях.
Research Object

потенциально-индуцированная деградация в фотоэлектрических модулях

Research Subject

текущее состояние исследований и возможные направления исследований для решения проблем, связанных с PID

Publication Details
Publication Date
2016-11-21
Journal
Publisher
ISSN
Access Type
Author Information
Authors
Wei Luo
Yong Sheng Khoo
Peter Hacke
Volker Naumann
Dominik Lausch
Steven P. Harvey
Jai Prakash Singh
Jing Chai
Yan Wang
Armin G. Aberle
Seeram Ramakrishna
Explore further
Open the scid.ai AI chat with a ready-made request: it will find papers on a similar topic and help build a literature review.
Find similar papers in the chat →
Make a presentation
100%