Изготовление кремниевых фотонных пластин для образовательных целей
Silicon Photonic wafer fabrication for education
2017-05-01
SCID: 54.1/97h8pza6
Discuss with AI
SOI пластинаКремниевая фотоникаTM-поляризованные решетчатые куплерыi-line литографиякольцевой резонатор
Figures from the paper
Abstract (AI)
Кремниевая фотоника представляет собой перспективную технологию для создания эффективных, высокопроизводительных межсоединений. Возрастает потребность в обучении будущих инженеров проектированию, изготовлению, тестированию и упаковке кремниевых фотонных схем. В работе показан процесс изготовления кремниевых фотонных структур, подходящий для образовательного учреждения с возможностями i-line литографии. Разработан процесс для реализации пассивных фотонных устройств (волноводы, интерферометрические структуры и решётчатые сопряжения «волокно‑чип»). Процесс реализован в CMOS-совместимой среде, используемой с 1986 года для обучения микроэлектронному инжинирингу и в настоящее время также поддерживающей образовательную миссию AIM Photonics Academy. В частности, на кремниевой подложке на изоляторе (SOI) были изготовлены массив TM-поляризованных решётчатых сопряжений с кольцевым резонатором при литографическом разрешении 0,325 µm. Время подготовки и выполнения составило 3 дня по сравнению с длительными сроками ожидания в промышленности. Ключевыми для технологии, выполняемой студентами, стали оптимизация разрешения с использованием ARC i-CON-7, разведённого OiR 620 и селективности травления кремния к смеси OiR 620:PGMEA в соотношении 1:1; полученные результаты подтверждаются данными оптической микроскопии и растровой электронной микроскопии (SEM).
Key Findings
1
Разработан совместимый с CMOS процесс изготовления кремниевой фотоники, подходящий для образовательных учреждений с i-line литографией.
2
Был изготовлен массив TM-поляризованных гратинговых переходников с кольцевым резонатором с литографическим разрешением 0,325 мкм на SOI-вафле.
3
Ключевую роль сыграла оптимизация с использованием ARC i-CON-7, разбавленного OiR 620 и селективности травления 1:1 OiR 620:PGMEA, подтверждённая результатами оптической микроскопии и SEM.
4
Время подготовки и выполнения процесса студентами составило 3 дня, что существенно короче типичных промышленных сроков ожидания.
5
Процесс позволяет получать пассивные фотонные устройства: волноводы, интерферометрические структуры и гратинговые переходники волокно-чип.
Research Object
Процесс изготовления кремниевых фотонных пластин для образовательных учреждений (i-line литография на SOI-ваттерах с получением пассивных фотонных устройств: волноводов, интерферометрических структур и решёток-сцепителей волокно-чип)
Research Subject
Разработка и оптимизация CMOS-совместимого образовательного процесса изготовления, управляемого студентами (время настройки/прогона, литографическое разрешение 0.325 µm, применение ARC и разведённого фоторезиста, селективность травления) для получения TM-поляризованных решёток-сцепителей и колец-резонаторов с валидацией оптическим микроскопом и SEM
Publication Details
Publication Date
2017-05-01
Journal
Publisher
ISSN
Access Type
Author Information
Download PDF
Subscribe to digest