Изготовление кремниевых фотонных пластин для образовательных целей

Silicon Photonic wafer fabrication for education
Michael L. Fanto, Stefan F. Preble, Sanjna Lakshminarayanamurthy, Nathan A. Rummage, Neville A. Mogent, Dale E. Ewbank, Jeffrey A. Steidle, Paul M. Thomas
2017-05-01

SOI пластинаКремниевая фотоникаTM-поляризованные решетчатые куплерыi-line литографиякольцевой резонатор
Кремниевая фотоника представляет собой перспективную технологию для создания эффективных, высокопроизводительных межсоединений. Возрастает потребность в обучении будущих инженеров проектированию, изготовлению, тестированию и упаковке кремниевых фотонных схем. В работе показан процесс изготовления кремниевых фотонных структур, подходящий для образовательного учреждения с возможностями i-line литографии. Разработан процесс для реализации пассивных фотонных устройств (волноводы, интерферометрические структуры и решётчатые сопряжения «волокно‑чип»). Процесс реализован в CMOS-совместимой среде, используемой с 1986 года для обучения микроэлектронному инжинирингу и в настоящее время также поддерживающей образовательную миссию AIM Photonics Academy. В частности, на кремниевой подложке на изоляторе (SOI) были изготовлены массив TM-поляризованных решётчатых сопряжений с кольцевым резонатором при литографическом разрешении 0,325 µm. Время подготовки и выполнения составило 3 дня по сравнению с длительными сроками ожидания в промышленности. Ключевыми для технологии, выполняемой студентами, стали оптимизация разрешения с использованием ARC i-CON-7, разведённого OiR 620 и селективности травления кремния к смеси OiR 620:PGMEA в соотношении 1:1; полученные результаты подтверждаются данными оптической микроскопии и растровой электронной микроскопии (SEM).
1
Разработан совместимый с CMOS процесс изготовления кремниевой фотоники, подходящий для образовательных учреждений с i-line литографией.
2
Был изготовлен массив TM-поляризованных гратинговых переходников с кольцевым резонатором с литографическим разрешением 0,325 мкм на SOI-вафле.
3
Ключевую роль сыграла оптимизация с использованием ARC i-CON-7, разбавленного OiR 620 и селективности травления 1:1 OiR 620:PGMEA, подтверждённая результатами оптической микроскопии и SEM.
4
Время подготовки и выполнения процесса студентами составило 3 дня, что существенно короче типичных промышленных сроков ожидания.
5
Процесс позволяет получать пассивные фотонные устройства: волноводы, интерферометрические структуры и гратинговые переходники волокно-чип.

Процесс изготовления кремниевых фотонных пластин для образовательных учреждений (i-line литография на SOI-ваттерах с получением пассивных фотонных устройств: волноводов, интерферометрических структур и решёток-сцепителей волокно-чип)

Разработка и оптимизация CMOS-совместимого образовательного процесса изготовления, управляемого студентами (время настройки/прогона, литографическое разрешение 0.325 µm, применение ARC и разведённого фоторезиста, селективность травления) для получения TM-поляризованных решёток-сцепителей и колец-резонаторов с валидацией оптическим микроскопом и SEM

Publication Details
Publication Date
2017-05-01
Journal
Publisher
ISSN
Access Type
Author Information
Authors
Michael L. Fanto
Stefan F. Preble
Sanjna Lakshminarayanamurthy
Nathan A. Rummage
Neville A. Mogent
Dale E. Ewbank
Jeffrey A. Steidle
Paul M. Thomas
Explore further
Open the scid.ai AI chat with a ready-made request: it will find papers on a similar topic and help build a literature review.
Find similar papers in the chat
Make a presentation
100%