Инжекционно-усиленное отплавление радиационных повреждений солнечных элементов на InP

Injection-enhanced annealing of InP solar-cell radiation damage
Masafumi Yamaguchi, Akio Yamamoto, Chikao Uemura, Koushi Ando
1985-07-01

повреждение солнечных элементов InP от радиацииспектроскопия глубинных уровней переходной емкости (DLTS)центры дефектов H4 (EV +0.37 эВ) и E2 (EC −0.19 эВ)инжекционно-усиленный отжигинжекция миноритарных носителей
В статье показано, что инжекция миноритарных носителей, вызванная прямым смещением и освещением при низкой плотности тока и кратковременной инжекции при комнатной температуре, может приводить к усиленному восстановлению радиационно-индуцированных дефектов в p-InP и к восстановлению радиационных повреждений в солнечных элементах с переходом InP n+-p. Анализ методом транситорной спектроскопии глубоких уровней показывает, что основные дефектные центры H4 (EV + 0,37 эВ) и E2 (EC − 0,19 эВ) в p-InP демонстрируют инжекционно-усиленное отплавление, которое является эффектом, усиленным рекомбинацией, с пониженной энергией активации 0,133 эВ. Значительное восстановление радиационных повреждений солнечных элементов InP n+-p за счёт инжекции миноритарных носителей в основном обусловлено восстановлением длины диффузии миноритарных носителей и уменьшением тока рекомбинации. Эти улучшения преимущественно связаны с аннигиляцией основных дефектных центров H4 и E2 в p-InP слое вследствие инжекции.
1
Аннигиляция дефектов H4 и E2 в слое p-InP является основной причиной заметного восстановления радиационного повреждения солнечной батареи.
2
Анализ методом глубокотемпературной транзиентной спектроскопии выявил основные центры дефектов H4 (EV +0.37 эВ) и E2 (EC −0.19 эВ) в p-InP, подвергающиеся инъекционно-усиленному отжигу.
3
Инжекция неосновных носителей через прямое смещение или освещение при низкой плотности тока и коротком времени при комнатной температуре усиливает восстановление радиационно-индуцированных дефектов в p-InP.
4
Восстановление радиационного повреждения солнечных элементов InP n+-p вследствие инжекции неосновных носителей в основном обусловлено восстановлением длины диффузии неосновных носителей и снижением тока рекомбинации.
5
Инжекционно-усиленный отжиг H4 и E2 является рекомбинационно-усиленным эффектом с уменьшенной энергией активации 0.133 эВ.

Солнечные элементы на основе InP с n+-p переходом и p-InP слой, содержащий радиационно-индуцированные дефекты

Инжекционно-усиленная отжиговая рекомбинация (инжекция миноритарных носителей при прямом смещении и освещении) влияющая на восстановление радиационно-индуцированных дефектов, в частности аннигиляция центров H4 (EV+0.37 эВ) и E2 (EC−0.19 эВ), и как следствие восстановление длины диффузии миноритарных носителей и снижение тока рекомбинации

Publication Details
Publication Date
1985-07-01
Journal
Publisher
ISSN
Access Type
Author Information
Authors
Masafumi Yamaguchi
Akio Yamamoto
Chikao Uemura
Koushi Ando
Explore further
Open the scid.ai AI chat with a ready-made request: it will find papers on a similar topic and help build a literature review.
Find similar papers in the chat
Make a presentation
100%