Эффективная система скруббера Вентури для удаления субмикронных частиц из отходящих газов
An Efficient Venturi Scrubber System to Remove Submicron Particles in Exhaust Gas
2005-03-01
SCID: 54.1/gpssz94g
Discuss with AI
частицы SiO₂скруббер Вентуриконденсационный рост частицгетерогенная нуклеацияудаление субмикронных частиц
Figures from the paper
Abstract (AI)
Разработана и испытана эффективная система скруббера Вентури, использующая гетерогенную нуклеацию и конденсационный рост частиц, для удаления мелкодисперсных частиц из отходящих газов локального скруббера, в котором обезвреживался остаточный газ SiH4 и образовывалось большое количество мелкодисперсных частиц SiO2. Перед скруббером Вентури мелкодисперсный водяной туман нормальной температуры смешивается с высокотемпературным отходящим газом и охлаждает его до температуры насыщения, что позволяет субмикронным частицам увеличиваться до микронных размеров. Затем укрупнившиеся частицы эффективно улавливаются в скруббере Вентури. Результаты испытаний показывают, что предложенная система скруббера Вентури эффективна для удаления субмикронных частиц. Для частиц SiO2 размером более 0,1 мкм эффективность удаления превышает 80–90% в зависимости от концентрации частиц. Соответствующее падение давления относительно невелико. Например, падение давления в скруббере Вентури составляет приблизительно 15,4 ± 2,4 см H2O при отношении расхода жидкости к расходу газа 1,50 л/м3. Для моделирования процесса роста частиц и эффективности удаления в скруббере Вентури был выполнен теоретический расчет. Теоретические результаты достаточно хорошо согласуются с экспериментальными данными, когда диаметр частиц SiO2 превышает 0,1 мкм.
Key Findings
1
Разработана система скруббера Вентури, объединяющая гетерогенное зародышеобразование и конденсационный рост для удаления субмикронных частиц из выхлопных газов.
2
При отношении жидкости к газу 1,50 л/м³ перепад давления в скруббере Вентури был относительно низким и составлял примерно 15,4 ± 2,4 см вод. ст.
3
Мелкодисперсный водяной туман охлаждал горячий выхлоп до температуры насыщения, увеличивая субмикронные частицы SiO₂ до микронных размеров перед их улавливанием.
4
Система удаляла более 80–90% частиц SiO₂ размером свыше 0,1 микрометра; эффективность зависела от концентрации частиц.
5
Теоретическое моделирование роста частиц и эффективности удаления достаточно хорошо согласовывалось с экспериментальными данными для частиц SiO₂ размером свыше 0,1 микрометра.
Research Object
Субмикронные частицы SiO2 в высокотемпературном выхлопном газе локального скруббера, обезвреживающего остаточный SiH4
Research Subject
Рост частиц за счёт гетерогенной нуклеации и конденсационного укрупнения, а также эффективность их последующего удаления и перепад давления в системе скруббера Вентури
Publication Details
Publication Date
2005-03-01
Journal
Publisher
ISSN
Open access PDF
Access Type
Author Information
Download PDF
Subscribe to digest