Интеллектуальная классификация кристаллических структур с использованием глубокого обучения

Insightful classification of crystal structures using deep learning
Matthias Scheffler, Luca M. Ghiringhelli, Angelo Ziletti, Devinder Kumar
2018-07-11

карты отклика вниманияклассификация кристаллической симметриинейронная сеть глубокого обучениядефектные кристаллические структурыдифракционные изображения
Вычислительные методы, автоматически извлекающие знания из данных, имеют решающее значение для развития материаловедения на основе данных. Надёжное определение симметрии решётки является важнейшим первым этапом характеристики и анализа материалов. Современные методы требуют задания пользователем порогового значения и не способны выявлять усреднённую симметрию дефектных структур. В настоящей работе предложен подход на основе машинного обучения для автоматической классификации структур по кристаллической симметрии. Сначала кристаллы представляются посредством расчёта дифракционного изображения, после чего для классификации строится модель нейронной сети глубокого обучения. Предложенный подход корректно классифицирует набор данных, включающий более 100 000 смоделированных кристаллических структур, в том числе структур с большим числом дефектов. Внутренние операции нейронной сети раскрываются с помощью карт внимательных откликов, которые показывают, что сеть использует те же ориентиры, что и специалист по материаловедению, хотя её никогда не обучали делать это явно. Результаты исследования открывают путь к распознаванию кристаллических структур по потенциально зашумлённым и неполным трёхмерным структурным данным в рамках материаловедения больших данных.
1
Метод глубокого обучения автоматически классифицирует кристаллические структуры по симметрии решётки без задания пользователем порогового значения.
2
Карты внимательного отклика показывают, что нейронная сеть выявляет структурные признаки, аналогичные используемым специалистами по материалам, без специального обучения этим признакам.
3
Метод правильно классифицирует более 100 000 смоделированных кристаллических структур, включая сильно дефектные структуры.
4
Метод представляет кристаллы с помощью рассчитанных дифракционных изображений, после чего применяет нейронную сеть для классификации симметрии.
5
Метод открывает возможности для распознавания кристаллических структур по потенциально зашумлённым или неполным трёхмерным данным в крупномасштабной материаловедческой аналитике.

кристаллические структуры, включая дефектные и зашумлённые трёхмерные структуры

автоматическая классификация и идентификация симметрии кристаллической решётки

Publication Details
Publication Date
2018-07-11
Journal
Publisher
ISSN
Cited by
349
Access Type
Author Information
Authors
Matthias Scheffler
Luca M. Ghiringhelli
Angelo Ziletti
Devinder Kumar
Explore further
Open the scid.ai AI chat with a ready-made request: it will find papers on a similar topic and help build a literature review.
Find similar papers in the chat →
Make a presentation
100%