Исследование эффекта излома вольт-амперной характеристики при моделировании AlGaN/GaN HEMT в режиме больших сигналов

Investigation on the I–V Kink Effect in Large Signal Modeling of AlGaN/GaN HEMTs
Yuehang Xu, Shuman Mao
2018-11-05

AlGaN/GaN HEMT-транзисторыI–V-кинк-эффекткомпактная модельмоделирование больших сигналовкоэффициент добавленной мощности
В статье исследуется влияние эффекта излома вольт-амперной характеристики на характеристики AlGaN/GaN-транзисторов с высокой подвижностью электронов (HEMT) в режиме больших сигналов. Предложена усовершенствованная компактная модель для точного описания эффекта излома вольт-амперной характеристики. Также учитывается зависимость этого эффекта от режима смещения. Для верификации предложенной модели использованы AlGaN/GaN HEMT с различной шириной затвора. На основе предложенной модели исследовано влияние эффекта излома вольт-амперной характеристики на характеристики в режиме больших сигналов. Результаты показывают, что в области насыщения этот эффект приводит к ухудшению таких характеристик, как выходная мощность, коэффициент усиления и коэффициент полезного действия по добавленной мощности. Кроме того, установлено, что влияние эффекта излома вольт-амперной характеристики зависит от входной мощности и точки статического смещения. Для верификации результатов моделирования использованы временные диаграммы и динамические нагрузочные линии в режиме переменного тока. Полученные результаты будут полезны для оптимизации практических схемотехнических решений.
1
Усовершенствованная компактная модель точно описывает эффект излома I–V в AlGaN/GaN HEMT с учетом его зависимости от напряжения смещения.
2
Эффект излома I–V ухудшает выходную мощность, коэффициент усиления и коэффициент полезного действия по добавленной мощности в режиме насыщения при работе с большими сигналами.
3
Влияние эффекта излома I–V зависит как от входной мощности, так и от статической рабочей точки.
4
Предложенная модель проверена на AlGaN/GaN HEMT с различной шириной затвора.
5
Временные диаграммы сигналов и динамические нагрузочные линии переменного тока подтвердили смоделированные последствия для режима больших сигналов, что полезно для оптимизации практических схем.

AlGaN/GaN-транзисторы с высокой подвижностью электронов (HEMT)

I–V-эффект излома и его зависимое от режима смещения и входной мощности влияние на характеристики при больших сигналах, включая выходную мощность, коэффициент усиления и добавленную мощность эффективность

Publication Details
Publication Date
2018-11-05
Journal
Publisher
ISSN
Access Type
Author Information
Authors
Yuehang Xu
Shuman Mao
Explore further
Open the scid.ai AI chat with a ready-made request: it will find papers on a similar topic and help build a literature review.
Find similar papers in the chat
Make a presentation
100%