Исследование эффекта излома вольт-амперной характеристики при моделировании AlGaN/GaN HEMT в режиме больших сигналов
Investigation on the I–V Kink Effect in Large Signal Modeling of AlGaN/GaN HEMTs
2018-11-05
SCID: 54.1/vwuftshz
Discuss with AI
AlGaN/GaN HEMT-транзисторыI–V-кинк-эффекткомпактная модельмоделирование больших сигналовкоэффициент добавленной мощности
Figures from the paper
Abstract (AI)
В статье исследуется влияние эффекта излома вольт-амперной характеристики на характеристики AlGaN/GaN-транзисторов с высокой подвижностью электронов (HEMT) в режиме больших сигналов. Предложена усовершенствованная компактная модель для точного описания эффекта излома вольт-амперной характеристики. Также учитывается зависимость этого эффекта от режима смещения. Для верификации предложенной модели использованы AlGaN/GaN HEMT с различной шириной затвора. На основе предложенной модели исследовано влияние эффекта излома вольт-амперной характеристики на характеристики в режиме больших сигналов. Результаты показывают, что в области насыщения этот эффект приводит к ухудшению таких характеристик, как выходная мощность, коэффициент усиления и коэффициент полезного действия по добавленной мощности. Кроме того, установлено, что влияние эффекта излома вольт-амперной характеристики зависит от входной мощности и точки статического смещения. Для верификации результатов моделирования использованы временные диаграммы и динамические нагрузочные линии в режиме переменного тока. Полученные результаты будут полезны для оптимизации практических схемотехнических решений.
Key Findings
1
Усовершенствованная компактная модель точно описывает эффект излома I–V в AlGaN/GaN HEMT с учетом его зависимости от напряжения смещения.
2
Эффект излома I–V ухудшает выходную мощность, коэффициент усиления и коэффициент полезного действия по добавленной мощности в режиме насыщения при работе с большими сигналами.
3
Влияние эффекта излома I–V зависит как от входной мощности, так и от статической рабочей точки.
4
Предложенная модель проверена на AlGaN/GaN HEMT с различной шириной затвора.
5
Временные диаграммы сигналов и динамические нагрузочные линии переменного тока подтвердили смоделированные последствия для режима больших сигналов, что полезно для оптимизации практических схем.
Research Object
AlGaN/GaN-транзисторы с высокой подвижностью электронов (HEMT)
Research Subject
I–V-эффект излома и его зависимое от режима смещения и входной мощности влияние на характеристики при больших сигналах, включая выходную мощность, коэффициент усиления и добавленную мощность эффективность
Publication Details
Publication Date
2018-11-05
Journal
Publisher
ISSN
Open access PDF
Access Type
Author Information
Download PDF
Subscribe to digest
Источники этой статьи в scid.ai4
Комплексный экспериментальный анализ эффектов излома в S22 и h21 для GaN HEMT2014
Характеризация эффекта излома в HEMT AlGaN/GaN методом измерений на постоянном токе и переходных процессов тока стока2012
Эффект кинкинга в HEMT AlGaN/GaN, индуцированный накачкой стока и затвора2011
Эффект излома при криогенных температурах в глубоко субмикронных HEMT AlGaN/GaN2009